可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)的計(jì)量方法概述

  1、**產(chǎn)品在生產(chǎn)，儲(chǔ)存，運(yùn)輸和使用過(guò)程中不可回避地要隨環(huán)境條件的侵襲，這種環(huán)境條件侵襲通常有三種情況：

1）氣候環(huán)境條件－－－－高溫，低溫，濕度，霉菌，鹽霧，砂塵，淋雨日照等

2）飛行環(huán)境條件－－－－低溫低氣壓，高溫低氣壓，溫度沖擊，加速度，振動(dòng)，沖擊

3）運(yùn)輸環(huán)境條件－－－－碰撞，振動(dòng)，沖擊等

為了適應(yīng)和經(jīng)受這些環(huán)境條件的侵襲，國(guó)內(nèi)外生產(chǎn)廠家不斷推出自己*好的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備以滿足市場(chǎng)的需求。 “九五"期間，七個(gè)地區(qū)北京，上海，成都，西安，沈陽(yáng)，武漢，廣州國(guó)防系統(tǒng)等60多單位投入環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備幾百余臺(tái)（箱），統(tǒng)計(jì)分析其中80年代投入使用占61，70年代投入使用占29，60年代投入使用占10，這些試驗(yàn)設(shè)備都較充分的發(fā)揮了作用。

2、現(xiàn)在實(shí)行的**標(biāo)準(zhǔn)

美軍標(biāo)MIL-STO-810

GJB150~20-86**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法

GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)

GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件